Главное меню

Параметры устройства, измеряющего толщину покрытия объекта и его метрологические характеристики

Целью курсового проекта является изучение параметров устройства измеряющего толщину покрытия объекта и его метрологические характеристики. В результате намеченной работы мы должны из существующих методов по измерению толщины покрытия, выбрать наиболее подходящий, провести метрологическую аттестацию измерительного канала и пояснить своё решение. Произвести статистическую обработку результатов многократных измерений, с последующим нормированием погрешности устройства.

Другое по теме:

Разработка архитектуры, принципиальной схемы и конструкции специализированного микроконтроллера
Микропроцессорные интегральные схемы (МП ИС) и микро-ЭВМ, построенные на их основе, явились следствием бурного развития микроэлектроники, позволившего в одном кристалле полупроводника размещать сложные вычислительные структуры, содержащие десят ...

Copyright © www.techproof.ru