Главное меню

Расчет показателей надежности и сравнение с заданными

Расчетная вероятность безотказной работы каждого ФУ была найдена по формуле (3.5), а всего устройства по формуле (4.1).

Ррасч(tб.р.)=рФУi(tб.р.).(4.1)

Результаты расчетов заданных и найденных интенсивностей отказов (λз, λр) и вероятностей безотказной работы (Рз, Рр) представлены в таблице 4.2. График зависимости вероятности безотказной работы всего устройства от времени представлен на рис. 4.1.

Таблица 4.2 – Сравнительный анализ расчетных и заданных ПН

№ФУ

Рз

Рр

λз,10-6 ч

λр10-6, ч

1

0,995

0,995

8,43

7,7

2

0,991

0,992

15,44

14,15

3

0,984

0,986

26,18

23.95

4

0,989

0,99

17,95

16,4

В результате Ррасч(tб.р ).=0.963

Необходимым условием данного расчета является выполнение следующих неравенств: λзi≥ λрi, Рзi ≤Ррi.

Расчет показателей ремонтопригодности

Изначально было выбрано заданное среднее время восстановления устройства Твз=2 ч.

Было найдено расчетное среднее время восстановления всего устройства:

Тв=∑λ∑ФУi·(То.о.i+Ту.о.i)/ λ∑,(4.3)

где То.о.i, Ту.о.i – среднее время обнаружения и устранения отказа каждого из ФУ (см. табл. 4.3).

Таблица 4.3 – Исходные данные для расчета Тв

№ ФУ

То.о., ч

Ту.о, ч

1

0,3

0,5

2

0,5

0,5

3

1

0,5

4

1

0,5

Необходимым условием в расчете данного подраздела является выполнение неравенства: Тв≤Твз.

Тв=1,3 ч, Твз=2 ч.

Расчет комплексных показателей надежности

По (4.4) был рассчитан коэффициент готовности изделия.

Кг(t)=Т/(Т+Тв)+Тв/(Т+Тв)·ехр{-t∙( λ∑+1/Тв)},(4.4)

где Т=1/ λ∑=1,608·104 ч – среднее время наработки до отказа всего устройства.

Необходимо, чтобы выполнялось неравенство: Кг(tб.р.)≥Кгз.

Поскольку полученное нами значение Кг(tб.р.)=0,9999, а заданное Кгз=0,98, то заданные требования выполняется.

График зависимости коэффициента готовности изделия от времени представлен на рис. 4.2.

По (4.5) был найден коэффициент оперативной готовности Ког(tб.р.)=0,963.

Ког(t)=Кг(t)∙e{- λ∑·tб.р.}.(4.5)

График зависимости коэффициента оперативной готовности изделия от времени представлен на рис. 4.3.

Кроме того, по (4.6) найден коэффициент технического использования.

Перейти на страницу: 1 2

Другое по теме:

Разработка архитектуры, принципиальной схемы и конструкции специализированного микроконтроллера
Микропроцессорные интегральные схемы (МП ИС) и микро-ЭВМ, построенные на их основе, явились следствием бурного развития микроэлектроники, позволившего в одном кристалле полупроводника размещать сложные вычислительные структуры, содержащие десят ...

Copyright © www.techproof.ru